説明
説明なし構成
構成なしOEMモデルの説明
The NanoSpec 9100 is an advanced film analysis system that combines DUV-NIR spectroscopic ellipsometry and DUV-visible spectroscopic reflectometry. It can handle 75mm to 200mm wafers and is equipped with N2000, the first metrology software that meets the SEMI user interface standard E95-0200. The system is designed for optical-telecom and wireless device manufacturing and can handle advanced materials and processes with speed and precision.ドキュメント
ドキュメントなし
カテゴリ
Thin Film / Film Thickness
最終検証： 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
102285
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
2013
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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ONTO / NANOMETRICS / ACCENT / BIO-RAD
NANOSPEC 9100
カテゴリ
Thin Film / Film Thickness
最終検証： 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
102285
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
2013
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
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The NanoSpec 9100 is an advanced film analysis system that combines DUV-NIR spectroscopic ellipsometry and DUV-visible spectroscopic reflectometry. It can handle 75mm to 200mm wafers and is equipped with N2000, the first metrology software that meets the SEMI user interface standard E95-0200. The system is designed for optical-telecom and wireless device manufacturing and can handle advanced materials and processes with speed and precision.ドキュメント
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