説明
Wafer Inspection構成
構成なしOEMモデルの説明
The Candela CS10 Optical Surface Analyzer is a compact device that offers exceptional sensitivity to particles and scratches on 2"-12" wafers using dual-laser Optical X-Beam technology. It simultaneously measures phase shift, scattered light, reflected light, and topography to detect and classify wafer surface defects. It is well-suited for laboratory and low volume production applications, and is easy to learn and operate.ドキュメント
ドキュメントなし
検証済み
カテゴリ
Defect Inspection
最終検証： 今日
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
138027
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
2010
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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KLA
CANDELA CS10
カテゴリ
Defect Inspection
最終検証： 今日
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
138027
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
2010
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
説明
Wafer Inspection構成
構成なしOEMモデルの説明
The Candela CS10 Optical Surface Analyzer is a compact device that offers exceptional sensitivity to particles and scratches on 2"-12" wafers using dual-laser Optical X-Beam technology. It simultaneously measures phase shift, scattered light, reflected light, and topography to detect and classify wafer surface defects. It is well-suited for laboratory and low volume production applications, and is easy to learn and operate.ドキュメント
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