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KLA 5200XP
    説明
    Overlaying instrument No missing parts Current Wafer size : 8
    構成
    構成なし
    OEMモデルの説明
    The KLA-Tencor 5200XP is an automated overlay metrology tool for the semiconductor industry. It improves overlay control, maximizes lithography tool utilization, and meets the requirements of 0.18 µm design rules. It has the highest throughput in the industry and is compatible with current factory automation standards.
    ドキュメント

    ドキュメントなし

    KLA

    5200XP

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    検証済み

    カテゴリ
    Overlay

    最終検証: 60日以上前

    主なアイテムの詳細

    状態:

    Used


    稼働ステータス:

    Deinstalled


    製品ID:

    107074


    ウェーハサイズ:

    6"/150mm, 8"/200mm


    ヴィンテージ:

    不明


    Have Additional Questions?
    Logistics Support
    Available
    Money Back Guarantee
    Available
    Transaction Insured by Moov
    Available
    Refurbishment Services
    Available
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    KLA

    5200XP

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    ヴィンテージ: 1998状態: 中古
    最終確認60日以上前

    KLA

    5200XP

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    検証済み
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    最終検証: 60日以上前
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    状態:

    Used


    稼働ステータス:

    Deinstalled


    製品ID:

    107074


    ウェーハサイズ:

    6"/150mm, 8"/200mm


    ヴィンテージ:

    不明


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    Available
    説明
    Overlaying instrument No missing parts Current Wafer size : 8
    構成
    構成なし
    OEMモデルの説明
    The KLA-Tencor 5200XP is an automated overlay metrology tool for the semiconductor industry. It improves overlay control, maximizes lithography tool utilization, and meets the requirements of 0.18 µm design rules. It has the highest throughput in the industry and is compatible with current factory automation standards.
    ドキュメント

    ドキュメントなし

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